先進集成電路電磁兼容測試與建模

• 作者： （美）亞歷山大·博耶
• 譯者： 吳建飛等
• 出版社： 國防工業出版社
• 出版日期： 2022-10-01
• ISBN碼： 9787118126075
• 編號： CN11838675